Characteristics of Irradiated Germanium Thin Films Deposited onto Silicon Substrates by Rutherford Backscattering and Thermoluminescence = دراسة خواص رقائق جيرمانيوم مشععة مبخرة على ركائز من السيليكون باستخدام تقنيتي التشتت الخلفي و التوهج الحراري

Characteristics of Irradiated Germanium Thin Films Deposited onto Silicon Substrates by Rutherford Backscattering and Thermoluminescence = دراسة خواص رقائق جيرمانيوم مشععة مبخرة على ركائز من السيليكون باستخدام تقنيتي التشتت الخلفي و التوهج الحراري

الكاتب : Salem , Shadi Mohammed

تصنيف: الفيزياء ,

تحميل PDF

البحث عن الملف فالخوادم ...

0% جاري البحث



Comments

الأكثر تحميلا :